微光像增強(qiáng)器測(cè)試技術(shù)

第1章 測(cè)試基礎(chǔ)
1.1 熱電子面發(fā)射源的研究
1.1.1 熱電子面發(fā)射源的理論分析
1.1.2 熱電子面發(fā)射源電場(chǎng)分布和電子軌跡計(jì)算
1.2 熱電子面發(fā)射源的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)
1.3 熱電子面發(fā)射源調(diào)試試驗(yàn)
1.3.1 熱電子面發(fā)射源的性能試驗(yàn)及分析
1.3.2 熱電子面發(fā)射源與其他熱電子發(fā)射源的比較
1.4 新型熱電子面發(fā)射源的研究
1.4.1 傳統(tǒng)熱電子面發(fā)射源與新型熱電子面發(fā)射源分析
1.4.2 新型熱電子面發(fā)射源測(cè)試試驗(yàn)
1.4.3 已設(shè)計(jì)的熱電子面發(fā)射源樣機(jī)
1.5 漫反射原理及積分球的研究
1.5.1 漫反射原理及漫反射材料性質(zhì)
1.5.2 理想積分球研究
1.5.3 積分球出光孔照度衰減的研究
1.5.4 積分球出光孔照度標(biāo)定方法的研究
1.5.5 積分球設(shè)計(jì)
1.6 真空系統(tǒng)的調(diào)試與測(cè)試試驗(yàn)
1.6.1 真空系統(tǒng)的烘烤除氣處理與真空度調(diào)試
1.6.2 真空系統(tǒng)的漏率測(cè)試計(jì)算
1.6.3 真空系統(tǒng)空／負(fù)載性能研究
第2章 像增強(qiáng)器零部件測(cè)試技術(shù)
2.1 MCP電子清刷測(cè)試?yán)碚撗芯?br /> 2.1.1 MCP的工作原理
2.1.2 MCP電子清刷測(cè)試?yán)碚?br /> 2.2 電子清刷測(cè)試系統(tǒng)的性能指標(biāo)與總體方案設(shè)計(jì)
2.2.1 系統(tǒng)的設(shè)計(jì)要求與性能指標(biāo)
2.2.2 系統(tǒng)方案總體設(shè)計(jì)
2.3 MCP電阻與增益的測(cè)試及結(jié)果分析
2.3.1 高溫烘烤對(duì)MCP體電阻的影響測(cè)試研究
2.3.2 電子清刷對(duì)MCP增益的影響測(cè)試研究
2.4 熒光屏發(fā)光特性研究
2.4.1 固體發(fā)光及表征發(fā)光特性的物理量
2.4.2 陰極射線致發(fā)光
2.5 像增強(qiáng)器熒光屏綜合參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)的研究
2.5.1 熒光屏綜合參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)理論
2.5.2 熒光屏綜合參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)的測(cè)試原理
2.5.3 熒光屏綜合參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)的理論設(shè)計(jì)
2.5.4 表征熒光屏性能的主要參數(shù)的定義及測(cè)試方法
2.6 熒光屏4種參數(shù)測(cè)試的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)及保障
2.6.1 熒光屏均勻性和發(fā)光亮度測(cè)試的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)及保障
2.6.2 熒光屏發(fā)光效率測(cè)試的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)及保障
2.6.3 熒光屏發(fā)光余輝測(cè)試的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)及保障
2.7 熒光屏綜合參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)總成
2.7.1 熒光屏綜合參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)的組成
2.7.2 熒光屏綜合參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)的控制模塊
2.7.3 熒光屏綜合參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)性能指標(biāo)
第3章 像增強(qiáng)器噪聲因子測(cè)試技術(shù)
3.1 微光像增強(qiáng)器噪聲因子理論
3.2 噪聲特性測(cè)試系統(tǒng)總體設(shè)計(jì)
3.3 MCP與熒光屏組件噪聲特性測(cè)試原理及方法
3.4 MCP與熒光屏組件噪聲特性測(cè)試系統(tǒng)調(diào)試與結(jié)果分析
3.4.1 真空系統(tǒng)測(cè)試
3.4.2 MCP與熒光屏組件噪聲特性測(cè)試及結(jié)果分析
第4章 像增強(qiáng)器信噪比測(cè)試技術(shù)
4.1 像增強(qiáng)器信噪比測(cè)試原理
4.1.1 像增強(qiáng)器信噪比測(cè)試?yán)碚?br /> 4.1.2 像增強(qiáng)器信噪比測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
4.1.3 微光像增強(qiáng)器的性能參數(shù)
4.2 像增強(qiáng)器信噪比測(cè)試儀的總體結(jié)構(gòu)
4.2.1 信噪比測(cè)試儀的光學(xué)結(jié)構(gòu)分析
4.2.2 信噪比測(cè)試儀的功能要求
4.2.3 信噪比測(cè)試儀的設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)
4.3 像增強(qiáng)器信噪比參數(shù)測(cè)試及分析
第5章 像增強(qiáng)器分辨力測(cè)試技術(shù)
5.1 像增強(qiáng)器分辨力測(cè)試原理
5.2 靶標(biāo)選擇
5.3 分辨力測(cè)試設(shè)計(jì)
5.3.1 紅外分辨力測(cè)試設(shè)計(jì)
5.3.2 紫外分辨力測(cè)試設(shè)計(jì)
5.3.3 微光分辨力理論研究
5.3.4 微光分辨力測(cè)試設(shè)計(jì)
第6章 像增強(qiáng)器亮度增益測(cè)試技術(shù)
6.1 像增強(qiáng)器亮度增益測(cè)試原理
6.1.1 亮度增益的測(cè)試原理
6.1.2 等效背景的測(cè)試原理
6.2 亮度增益測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)
6.3 亮度增益測(cè)試結(jié)果分析
6.4 像增強(qiáng)器綜合參數(shù)測(cè)試儀研制
6.4.1 微光像增強(qiáng)器信噪比測(cè)試子系統(tǒng)
6.4.2 微光像增強(qiáng)器亮度增益測(cè)試子系統(tǒng)
6.4.3 微光像增強(qiáng)器鑒別率測(cè)試子系統(tǒng)
6.4.4 研制結(jié)果
第7章 像增強(qiáng)器發(fā)光均勻性測(cè)試技術(shù)
7.1 均勻性測(cè)試儀系統(tǒng)設(shè)計(jì)的理論研究
7.2 多型號(hào)微光像增強(qiáng)器成像均勻性測(cè)試儀系統(tǒng)設(shè)計(jì)
7.2.1 均勻性測(cè)試儀技術(shù)指標(biāo)要求
7.2.2 均勻性測(cè)試儀總體設(shè)計(jì)方案
7.3 多型號(hào)微光像增強(qiáng)器成像均勻性測(cè)試儀實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證與分析
7.3.1 積分球出光孔照度標(biāo)定實(shí)驗(yàn)
7.3.2 積分球出光孔照度衰減干擾因子驗(yàn)證實(shí)驗(yàn)
7.3.3 微光像增強(qiáng)器成像均勻性測(cè)試儀標(biāo)定及產(chǎn)品測(cè)試實(shí)驗(yàn)
第8章 紫外成像光電系統(tǒng)性能測(cè)試裝置
8.1 研究目標(biāo)
8.2 系統(tǒng)要求
8.2.1 功能要求
8.2.2 性能指標(biāo)
8.3 紫外器件綜合性能測(cè)試儀
8.3.1 紫外器件性能參數(shù)測(cè)試原理
8.3.2 紫外器件綜合性能測(cè)試儀具體設(shè)計(jì)方案
8.4 紫外光學(xué)系統(tǒng)焦距測(cè)量?jī)x
8.4.1 紫外光學(xué)系統(tǒng)焦距測(cè)量原理
8.4.2 紫外光學(xué)系統(tǒng)焦距測(cè)量?jī)x功能組成及設(shè)計(jì)方案
8.5 紫外光學(xué)系統(tǒng)透射比測(cè)試儀
8.5.1 紫外光學(xué)系統(tǒng)透射比測(cè)試儀功能組成
8.5.2 紫外光學(xué)系統(tǒng)透射比測(cè)試儀設(shè)計(jì)方案
8.6 設(shè)備實(shí)際達(dá)到的技術(shù)指標(biāo)
8.6.1 紫外