模擬電路設(shè)計(jì) 魯棒性設(shè)計(jì)、Sigma-Delta轉(zhuǎn)換器、射頻識(shí)別技術(shù)

目　　錄 \n
譯者序 \n
原書前言 \n
貢獻(xiàn)者 \n
第１ 部分　魯棒性設(shè)計(jì) \n
第１ 章　納米ＣＭＯＳ 技術(shù)中模擬集成電路的可靠性建模與設(shè)計(jì) ３ \n
Ｇｅｏｒｇｅｓ Ｇｉｅｌｅｎ， Ｅｌｉｅ Ｍａｒｉｃａｕ 和Ｐｉｅｔｅｒ Ｄｅ Ｗｉｔ \n
第２ 章　納米ＣＭＯＳ 技術(shù)中的統(tǒng)計(jì)變異性建模和模擬 １４ \n
Ａ.. Ａｓｅｎｏｖ 和Ｂ.. Ｃｈｅｎｇ \n
第３ 章　納米尺度模擬ＣＭＯＳ 的高級物理設(shè)計(jì) ２７ \n
Ｌａｎｎｙ Ｌ.. Ｌｅｗｙｎ \n
第４ 章　高溫高壓應(yīng)用環(huán)境下的健壯性設(shè)計(jì) ４１ \n
Ｏｖｉｄｉｕ Ｖｅｒｍｅｓａｎ， Ｅｄｇａｒｄ Ｌａｅｓ， Ｍａｒｃｏ Ｏｔｔｅｌｌａ， Ｍａｍｕｎ Ｊａｍａｌ， Ｊａｎ Ｋｕｂｉｋ， \n
Ｋａｆｉｌ Ｍ.. Ｒａｚｅｅｂ， Ｒｅｉｎｅｒ Ｊｏｈｎ， Ｈａｒａｌｄ Ｇａｌｌ， Ｍａｓｓｉｍｏ Ａｂｒａｔｅ， \n
Ｎｉｃｏｌａｓ Ｃｏｒｄｅｒｏ 和Ｊａｎ Ｖｃｅｌａｋ \n
第５ 章　ＣＭＯＳ 技術(shù)中的輻射效應(yīng)與加固設(shè)計(jì) ５４ \n
Ｆｅｄｅｒｉｃｏ Ｆａｃｃｉｏ \n
第６ 章　智能功率高位開關(guān)電磁兼容性設(shè)計(jì) ７０ \n
Ｐａｏｌｏ Ｄｅｌ Ｃｒｏｃｅ 和Ｂｅｒｎｄ Ｄｅｕｔｓｃｈｍａｎｎ \n
第２ 部分?。樱椋纾恚?Ｄｅｌｔａ 轉(zhuǎn)換器 \n
第７ 章　噪聲耦合Ｄｅｌｔａ.Ｓｉｇｍａ 模.數(shù)轉(zhuǎn)換器（ＡＤＣ） ８２ \n
Ｋｙｅｈｙｕｎｇ Ｌｅｅ 和Ｇａｂｏｒ Ｃ.. Ｔｅｍｅｓ \n
第８ 章　甚低過采樣率Ｓｉｇｍａ.Ｄｅｌｔａ 轉(zhuǎn)換器 １０３ \n
Ｔｒｅｖｏｒ Ｃ.. Ｃａｌｄｗｅｌｌ \n
第９ 章　基于比較器的開關(guān)電容Ｄｅｌｔａ.Ｓｉｇｍａ Ａ.Ｄ 轉(zhuǎn)換器 １２１ \n
Ｋｏｅｎ Ｃｏｒｎｅｌｉｓｓｅｎｓ 和Ｍｉｃｈｉｅｌ Ｓｔｅｙａｅｒｔ \n
第１０ 章　基于ＶＣＯ 的寬帶連續(xù)時(shí)間Ｓｉｇｍａ.Ｄｅｌｔａ 數(shù).模轉(zhuǎn)換器 １３８ \n
Ｍｉｃｈａｅｌ Ｈ.. Ｐｅｒｒｏｔｔ \n
第１１ 章　寬帶連續(xù)時(shí)間多比特Ｄｅｌｔａ.Ｓｉｇｍａ ＡＤＣ １６０ \n
Ｊ.. Ｓｉｌｖａ.Ｍａｒｔｉｎｅｚ， Ｃ.. .Ｙ.. Ｌｕ， Ｍ.. Ｏｎａｂａｊｏ， Ｆ.. Ｓｉｌｖａ.Ｒｉｖａｓ， Ｖ.. Ｄｈａｎａｓｅｋａｒａｎ 和 \n
Ｍ.. Ｇａｍｂｈｉｒ \n
第１２ 章　過采樣數(shù).模轉(zhuǎn)換器（ＤＡＣ） １８０ \n
Ａｎｄｒｅａ Ｂａｓｃｈｉｒｏｔｔｏ， Ｖｉｔｔｏｒｉｏ Ｃｏｌｏｎｎａ 和Ｇａｂｒｉｅｌｅ Ｇａｎｄｏｌｆｉ \n
第３ 部分　射頻識(shí)別技術(shù) \n
第１３ 章?。遥疲桑摹豁?xiàng)在工業(yè)應(yīng)用中蓄勢待發(fā)的技術(shù) ２０５ \n
Ｈｅｎｒｉ Ｂａｒｔｈｅｌ \n
第１４ 章　世界上最小的ＲＦＩＤ 芯片技術(shù) ２２０ \n
Ｍｉｔｓｕｏ Ｕｓａｍｉ \n
第１５ 章　ＲＦ 和ＲＦＩＤ 的低功耗模擬設(shè)計(jì) ２２９ \n
Ｒａｙｍｏｎｄ Ｂａｒｎｅｔｔ \n
第１６ 章　一種雙頻帶綜合射頻識(shí)別標(biāo)簽 ２４７ \n
Ａｌｂｅｒｔ Ｍｉｓｓｏｎｉ， Ｇüｎｔｅｒ Ｈｏｆｅｒ 和Ｗｏｌｆｇａｎｇ Ｐｒｉｂｙｌ \n
第１７ 章　印刷電子學(xué)———電路、產(chǎn)品和路線圖的首次提出 ２６４ \n
Ｊüｒｇｅｎ Ｋｒｕｍｍ 和Ｗｏｌｆｇａｎｇ Ｃｌｅｍｅｎｓ \n
第１８ 章?。牛校?兼容有機(jī)ＲＦＩＤ 標(biāo)簽 ２７５