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基于數(shù)據(jù)挖掘的軟件缺陷預(yù)測技術(shù)

基于數(shù)據(jù)挖掘的軟件缺陷預(yù)測技術(shù)

定　價：￥35.00

作　者： 馬櫻 著
出版社： 廈門大學(xué)出版社
叢編項：
標　簽： 暫缺
ISBN： 9787561562833 出版時間： 2018-06-01 包裝： 平裝
開本： 16開 頁數(shù)： 164 字數(shù)：  

內(nèi)容簡介

　　本專著主要基于軟件領(lǐng)域數(shù)據(jù)的特性和預(yù)測模型的不同應(yīng)用場景，對軟件缺陷預(yù)測前言的若干關(guān)鍵技術(shù)進行了研究和總結(jié)。主要內(nèi)容包括遷移學(xué) 習(xí)環(huán)境下的缺陷預(yù)測技術(shù)，半監(jiān)督環(huán)境下的缺陷預(yù)測技術(shù)，主動學(xué)習(xí)環(huán)境下的缺陷預(yù)測技術(shù)，基于核理論的缺陷預(yù)測技術(shù)，所應(yīng)用的理論、 算法及應(yīng)用成果的介紹和展示。

作者簡介

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