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Lattice可編程器件測試技術

Lattice可編程器件測試技術

定 價:¥30.00

作 者: 吳丹,石堅,周紅 著
出版社: 西北工業(yè)大學出版社
叢編項:
標 簽: 暫缺

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ISBN: 9787561242537 出版時間: 2015-01-01 包裝: 平裝
開本: 16開 頁數: 字數:  

內容簡介

《Lattice可編程器件測試技術》從工程實際應用出發(fā),對Lattice可編程器件自動編程與測試的關鍵技術進行了分析和討論。主要內容包括針對可編程單元測試的編程資源測試技術、基于可測性設計的邏輯資源測試技術、針對邏輯電路測試向量生成的功能測試生成算法、保證測試向量和測試程序開發(fā)效率和質量的可編程器件測試技術規(guī)范、研究緒論及結果分析等。
  《Lattice可編程器件測試技術》可供相關工程技術人員、科研人員參考,也可作為高等學校有關專業(yè)教材或教學參考書。

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