測(cè)試工程及LabVIEW應(yīng)用（LabVIEW研究院）

第1章 緒論
1.1 測(cè)試技術(shù)概述
1.1.1 測(cè)試技術(shù)發(fā)展歷程
1.1.2 現(xiàn)代測(cè)試技術(shù)的特點(diǎn)
1.1.3 測(cè)試技術(shù)發(fā)展趨勢(shì)
1.2 測(cè)試系統(tǒng)概述
1.2.1 測(cè)試系統(tǒng)的組成
1.2.2 自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)
1.2.3 測(cè)試系統(tǒng)的分類
1.2.4 測(cè)試系統(tǒng)主要性能指標(biāo)
1.2.5 現(xiàn)代測(cè)試系統(tǒng)應(yīng)用狀況
1.3 網(wǎng)絡(luò)化測(cè)試工程概述
1.3.1 網(wǎng)絡(luò)化測(cè)試的定義
1.3.2 測(cè)試中網(wǎng)絡(luò)的功能
1.3.3 網(wǎng)絡(luò)化測(cè)試的特點(diǎn)
1.3.4 測(cè)試網(wǎng)絡(luò)化的意義
1.4 LabVIEW與測(cè)試工程
1.4.1 LabVIEW概述
1.4.2 LabVIEW開發(fā)測(cè)試軟件的優(yōu)勢(shì)
1.5 測(cè)試工程學(xué)主要研究內(nèi)容

第2章 LabVIEW測(cè)試軟件開發(fā)入門
2.1 LabVIEW程序的基本構(gòu)成
2.1.1 前面板
2.1.2 框圖
2.1.3 連線板
2.2 LabVIEW編程環(huán)境
2.2.1 啟動(dòng)界面
2.2.2 控件選板與函數(shù)選板
2.2.3 工具欄
2.2.4 菜單
2.2.5 在線幫助系統(tǒng)
2.3 數(shù)據(jù)類型
2.3.1 基本數(shù)據(jù)類型
2.3.2 復(fù)合數(shù)據(jù)類型
2.4 局部變量和全局變量
2.4.1 局部變量
2.4.2 全局變量
2.5 程序流程控制
2.5.1 順序結(jié)構(gòu)
2.5.2 條件結(jié)構(gòu)
2.5.3 循環(huán)結(jié)構(gòu)
2.5.4 事件結(jié)構(gòu)
2.6 數(shù)據(jù)的圖形顯示
2.6.1 波形圖表
2.6.2 波形圖
2.6.3 XY圖
2.7 VI設(shè)計(jì)
2.7.1 創(chuàng)建對(duì)象
2.7.2 選擇對(duì)象
2.7.3 移動(dòng)對(duì)象
2.7.4 復(fù)制和刪除對(duì)象
2.7.5 對(duì)齊和分布對(duì)象
2.7.6 調(diào)整對(duì)象大小
2.7.7 調(diào)整對(duì)象層序
2.7.8 修改對(duì)象外觀
2.7.9 連線
2.8 VI的調(diào)試及工具使用
2.8.1 調(diào)試工具欄
2.8.2 高亮執(zhí)行
2.8.3 探針和斷點(diǎn)
2.8.4 常見錯(cuò)誤
2.9 子Ⅵ設(shè)計(jì)
2.9.1 子VI的概念與VI層次結(jié)構(gòu)
2.9.2 創(chuàng)建子VI
2.9.3 修改連線板
2.9.4 編輯圖標(biāo)
2.9.5 設(shè)置VI屬性
2.9.6 使用子VI
……
第3章 數(shù)據(jù)采集
第4章 LabVIEW的數(shù)據(jù)采集編程