互換性與測量技術(shù)

前言第1章 緒論1.1 概述1.2 幾何要素與幾何精度設(shè)計1.2.1 幾何要素1.2.2 幾何誤差與幾何精度1.2.3 幾何精度設(shè)計的基本原則1.2.4 幾何精度設(shè)計的方法1.3 產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范GPS1.3.1 產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范GPS的概念1.3.2 GPS標準體系的層次結(jié)構(gòu)1.3.3 GPS通用標準矩陣1.4 優(yōu)先數(shù)和優(yōu)先數(shù)系思考題與習(xí)題 第2章 極限與配合2.1 概述2.2 術(shù)語和定義2.2.1 軸和孔2.2.2 尺寸2.2.3 偏差2.2.4 尺寸公差2.2.5 公差帶2.2.6 極限制2.2.7 間隙和過盈2.2.8 配合2.2.9 配合公差2.2.10 配合制2.3 標準公差系列和基本偏差系列2.3.1 標準公差系列2.3.2 基本偏差系列2.4 公差帶和配合2.4.1 公差帶及其選用2.4.2 配合及其選用2.5 一般公差2.5.1 一般公差的概念2.5.2 一般公差等級及極限偏差2.5.3 一般公差的應(yīng)用2.6 公差帶和配合的選用2.6.1 配合制的選用2.6.2 公差等級的選用2.6.3 配合種類的選用思考題與習(xí)題 第3章 幾何公差3.1 概述3.2 幾何公差基礎(chǔ)3.2.1 幾何誤差對機器功用的影響3.2.2 有關(guān)術(shù)語和定義3.2.3 幾何公差的分類、公差項目、符號及附加符號3.2.4 幾何公差與幾何公差帶3.2.5 幾何誤差與最小條件3.2.6 基準3.3 幾何公差標注的基本原則、基本要求和方法3.3.1 公差框格3.3.2 被測要素3.3.3 基準要素3.4 幾何公差的定義、標注與解釋3.4.1 形狀公差3.4.2 方向公差3.4.3 位置公差3.4.4 跳動公差3.5 公差原則3.5.1 公差原則及其分類3.5.2 術(shù)語和定義3.5.3 獨立原則3.5.4 包容要求3.5.5 最大實體要求3.6 幾何公差的選用3.6.1 幾何公差項目的選用3.6.2 幾何公差值的選用3.6.3 基準的選用3.6.4 公差原則的選用思考題與習(xí)題 第4章 表面結(jié)構(gòu)4.1 概述4.2 表面結(jié)構(gòu)及其組成4.2.1 表面結(jié)構(gòu)的定義4.2.2 表面缺陷4.2.3 表面輪廓4.2.4 表面粗糙度4.3 表面粗糙度的術(shù)語和定義4.4 表面粗糙度參數(shù)4.5 表面粗糙度的表示法4.5.1 標注表面粗糙度的圖形符號4.5.2 表面粗糙度完整圖形符號的組成4.5.3 表面粗糙度要求在圖樣上的標注4.6 表面粗糙度的選用4.6.1 表面粗糙度參數(shù)的選用4.6.2 表面粗糙度參數(shù)值的選用思考題與習(xí)題 第5章 技術(shù)測量基礎(chǔ)5.1 概述5.1.1 測量5.1.2 測量的四要素5.1.3 幾何量測量技術(shù)的發(fā)展歷史5.2 測量單位5.2.1 長度基準5.2.2 尺寸傳遞系統(tǒng)5.2.3 角度基準與角度量值傳遞系統(tǒng)5.2.4 量塊5.3 測量方法5.3.1 測量方法的分類5.3.2 測量器具及其分類5.3.3 測量器具的特性指標5.4 測量誤差5.4.1 測量誤差及其表示5.4.2 測量誤差的來源5.4.3 測量誤差的分類5.4.4 隨機誤差的處理5.4.5 系統(tǒng)誤差的處理5.4.6 粗大誤差的處理5.4.7 測量誤差的合成思考題與習(xí)題 第6章 基本幾何量的檢測6.1 概述6.2 線性尺寸的檢測6.2.1 用通用計量器具測量6.2.2 用光滑極限量規(guī)檢驗6.3 幾何誤差的檢測6.3.1 幾何誤差的檢測原則6.3.2 直線度誤差的檢測與評定6.3.3 平面度誤差的檢測與評定6.4 表面粗糙度的檢測思考題與習(xí)題 第7章 滾動軸承的公差與配合7.1 概述7.2 滾動軸承外圈外徑、內(nèi)圈內(nèi)徑的公差帶7.2.1 滾動軸承的公差7.2.2 滾動軸承公差帶的特點7.3 軸頸和外殼孔的公差帶7.4 滾動軸承配合的選用7.4.1 公差等級的選擇7.4.2 配合的選擇7.4.3 幾何公差和表面粗糙度的選擇思考題與習(xí)題 第8章 螺紋的公差與配合第9章 漸開線圓柱齒輪精度參考文獻