材料物理性能與檢測(cè)

前言
第1章 晶體學(xué)基礎(chǔ)與晶體結(jié)構(gòu)
1.1 晶體學(xué)基礎(chǔ)
1.1.1 晶體與非晶體
1.1.2 空間點(diǎn)陣和晶胞
1.1.3 七大晶系與十四種布拉維點(diǎn)陣
1.1.4 晶向指數(shù)與晶面指數(shù)
1.1.5 晶體的對(duì)稱性
1.2 三種典型的金屬晶體結(jié)構(gòu)
1.2.1 面心立方結(jié)構(gòu)
1.2.2 體心立方結(jié)構(gòu)
1.2.3 密排六方結(jié)構(gòu)
1.2.4 晶體結(jié)構(gòu)中的間隙
1.3 晶體的缺陷
1.3.1 點(diǎn)缺陷
1.3.2 線缺陷（位錯(cuò)）
1.3.3 面缺陷
1.3.4 晶界能
1.3.5 缺陷對(duì)材料物理性能的影響
參考文獻(xiàn)
思考練習(xí)題
第2章 材料的導(dǎo)電性能
2.1 材料導(dǎo)電性概述
2.1.1 電阻率和電導(dǎo)率
2.1.2 電導(dǎo)率的一般表達(dá)式
2.2 材料的導(dǎo)電理論
2.2.1 金屬及半導(dǎo)體的導(dǎo)電機(jī)理
2.2.2 無(wú)機(jī)非金屬材料的導(dǎo)電機(jī)理
2.3 金屬材料的電學(xué)性能
2.3.1 金屬電阻率的馬西森定則
2.3.2 影響金屬導(dǎo)電性的因素
2.4 半導(dǎo)體材料的電學(xué)性能
2.4.1 半導(dǎo)體材料概述
2.4.2 本征半導(dǎo)體的電學(xué)性能
2.4.3 雜質(zhì)半導(dǎo)體的電學(xué)性能
2.4.4 pn結(jié)
2.4.5 半導(dǎo)體與化學(xué)結(jié)構(gòu)的關(guān)系
2.4.6 半導(dǎo)體的霍爾效應(yīng).
2.5 材料的超導(dǎo)電性
2.5.1 超導(dǎo)體的三個(gè)基本特性
2.5.2 超導(dǎo)體的三個(gè)臨界條件
2.5.3 兩類(lèi)超導(dǎo)體
2.5.4 超導(dǎo)的BCS理論
2.6 材料導(dǎo)電性的測(cè)量
2.6.1 雙臂電橋法
2.6.2 直流電勢(shì)差計(jì)測(cè)量法
2.6.3 直流四探針?lè)?br />2.6.4 絕緣體電阻的測(cè)量
2.7 電阻分析的應(yīng)用
2.7.1 研究合金的時(shí)效過(guò)程
2.7.2 測(cè)定固溶體的溶解度曲線
2.7.3 材料疲勞過(guò)程的研究
2.7.4 馬氏體相變的研究
參考文獻(xiàn)
思考練習(xí)題
第3章 材料的熱學(xué)性能
3.1 晶格的熱振動(dòng)
3.2 材料的熱容
3.2.1 熱容及其與溫度的關(guān)系
3.2.2 經(jīng)典熱容理論
3.2.3 熱容的量子理論
3.2.4 材料與熱容的關(guān)系
3.2.5 熱容的測(cè)量
3.2.6 熱分析法及其在材料研究中的應(yīng)用
3.3 材料的熱膨脹
……
第4章 材料的磁性能
第5章 材料的光學(xué)性能
第6章 材料的介電性能
第7章 納米微粒材料的物理性能
第8章 薄膜材料的物理性能
第9章 納米材料的測(cè)試與表征
附錄A 固體電子論基礎(chǔ)知識(shí)概述
附錄B