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電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)匯編(第三版)

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)匯編(第三版)

定 價(jià):¥60.00

作 者: 中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社 編
出版社: 中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社
叢編項(xiàng): 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)和著火危險(xiǎn)試驗(yàn)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)系列匯編
標(biāo) 簽: 電器

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ISBN: 9787506645676 出版時(shí)間: 2007-09-01 包裝: 平裝
開(kāi)本: 頁(yè)數(shù): 219 字?jǐn)?shù):  

內(nèi)容簡(jiǎn)介

  隨著現(xiàn)代工業(yè)技術(shù)的迅速發(fā)展,電工電子產(chǎn)品應(yīng)用領(lǐng)域日益廣闊,所經(jīng)受的環(huán)境條件也越來(lái)越復(fù)雜多樣。只有合理地規(guī)定產(chǎn)品的環(huán)境條件,正確選擇產(chǎn)品的環(huán)境防護(hù)措施,才能保證產(chǎn)品在儲(chǔ)存運(yùn)輸中免遭損壞,在使用過(guò)程中安全可靠。因而,對(duì)電工電子產(chǎn)品進(jìn)行人工模擬環(huán)境試驗(yàn)和必要的著火危險(xiǎn)試驗(yàn)是保證其在生產(chǎn)、運(yùn)輸、使用等各環(huán)節(jié)中都安全可靠所必不可少的重要環(huán)節(jié)。出廠前對(duì)電工電子產(chǎn)品進(jìn)行人工模擬環(huán)境試驗(yàn)是保證質(zhì)量所必不可少的重要環(huán)節(jié),因此環(huán)境試驗(yàn)條件、試驗(yàn)方法、試驗(yàn)設(shè)備、各項(xiàng)著火危險(xiǎn)試驗(yàn)是否符合標(biāo)準(zhǔn)關(guān)系重大。多年來(lái)我國(guó)制修訂了很多這方面的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),我們陸續(xù)出版過(guò)電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)方面標(biāo)準(zhǔn)的系列匯編,受到讀者歡迎。截至目前為止,該方面國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)共計(jì)147項(xiàng),其中2005年以來(lái)新制修訂的電工電子環(huán)境試驗(yàn)、著火危險(xiǎn)試驗(yàn)及特殊環(huán)境條件方面的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)共有59項(xiàng),并廢止17項(xiàng)(不包括代替)。這些標(biāo)準(zhǔn)受到廣大電工電子產(chǎn)品研制、生產(chǎn)、檢驗(yàn)、運(yùn)輸、使用人員的關(guān)注。我們特此匯集整理,分5冊(cè)陸續(xù)出版:電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)匯編(第四版)電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)匯編(第三版)電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)匯編(第三版)電工電子產(chǎn)品著火危險(xiǎn)試驗(yàn)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)匯編(第二版)電工電子產(chǎn)品特殊環(huán)境條件國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)匯編(第一版)本冊(cè)為《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)匯編(第三版)》,共匯集了截至2007年6月底我國(guó)正式發(fā)布實(shí)施且現(xiàn)行有效的電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法方面的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)15項(xiàng)及有關(guān)低溫箱、高溫箱、濕溫箱、鹽霧箱和霉菌箱等試驗(yàn)設(shè)備的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)8項(xiàng),共計(jì)23項(xiàng)。本匯編收集的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)均為推薦性國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)(目錄中標(biāo)明GB/T),標(biāo)準(zhǔn)年號(hào)用四位數(shù)字表示。鑒于部分國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)是在國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)清理整頓前出版的,現(xiàn)尚未修訂,故正文部分仍保留原樣;讀者在使用這些國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)時(shí),其屬性以本目錄標(biāo)明的為準(zhǔn)(標(biāo)準(zhǔn)正文“引用標(biāo)準(zhǔn)”中的標(biāo)準(zhǔn)的屬性請(qǐng)讀者注意查對(duì))。由于所收錄標(biāo)準(zhǔn)的發(fā)布年代不盡相同,我們對(duì)標(biāo)準(zhǔn)中所涉及到的有關(guān)量和單位的標(biāo)注方法未作統(tǒng)一改動(dòng)。

作者簡(jiǎn)介

暫缺《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)匯編(第三版)》作者簡(jiǎn)介

圖書(shū)目錄

環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法
GB/T 5170.1—1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法總則
GB/T 5170.2—1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備
GB/T 5170.5—1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 濕熱試驗(yàn)設(shè)備
GB/T 5170.8—1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法鹽霧試驗(yàn)設(shè)備
GB/T 5170.9—1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 太陽(yáng)輻射試驗(yàn)設(shè)備
GB/T 5170.10—1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備
GB/T 5170.11—1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法腐蝕氣體試驗(yàn)設(shè)備
GB/T 5170.13—2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 振動(dòng)(正弦)試驗(yàn)用機(jī)械振動(dòng)臺(tái)
GB/T 5170.14—1985 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 振動(dòng)(正弦)試驗(yàn)用電動(dòng)眼動(dòng)臺(tái)
GB/T 5170.15—2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 振動(dòng)(正弦)試驗(yàn)用液壓振動(dòng)臺(tái)
GB/T 5170.16—2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 穩(wěn)態(tài)加速度試驗(yàn)用離 心機(jī)
GB/T 5170.17—2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 低溫/低氣壓/濕熱綜合順序試驗(yàn)設(shè)備
GB/T 5170.18—2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)設(shè)備
GB/T 5170.19—2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度/振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)設(shè)備
GB/T 5170.20—2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法水試驗(yàn)設(shè)備
環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備
GB/T 10586—2006濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T 10587—2006鹽霧試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T 10588—2006長(zhǎng)霉試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T 10589—1989低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T 10590—2006高低溫/低氣壓試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T 10591—2006高溫/低氣壓試驗(yàn)箱技術(shù)條件一
GB/T 10592—1989高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T 11158—1989高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

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