在不斷發(fā)展的高技術(shù)環(huán)境中,工程產(chǎn)品設(shè)計(jì)師經(jīng)常面臨電磁干擾的問(wèn)題,電磁干擾會(huì)影響產(chǎn)品的性能。本書為EMC符合兼容的測(cè)試方法和技術(shù)提供了一系列簡(jiǎn)單、有效的故障檢測(cè)指南,用來(lái)闡明各個(gè)過(guò)程的特點(diǎn)。Mark I. Montrose和Edward M. Nakauchi在書中提出了一種簡(jiǎn)易的、解決EMC問(wèn)題的方法,并對(duì)開(kāi)發(fā)、解決符合兼容性問(wèn)題所需要的診斷工具和測(cè)量步驟給出了建議。本書特點(diǎn)如下:●僅需要數(shù)學(xué)、電子學(xué)和EMC的基本知識(shí);●檢測(cè)方式簡(jiǎn)單且實(shí)用;●為工程師提供了必要的工具和技術(shù)來(lái)快速、有效地設(shè)計(jì)產(chǎn)品;●能夠幫助技術(shù)人員盡量避免嚴(yán)重的錯(cuò)誤;●包括一個(gè)完整的測(cè)試步驟方法的附錄,其中詳述了在當(dāng)今產(chǎn)品上進(jìn)行的多數(shù)EMC試驗(yàn)。
作者簡(jiǎn)介
MARK I.MONTROSE IEEE 的高級(jí)會(huì)員和IEEE EMC及產(chǎn)品安全工程協(xié)會(huì)的理事會(huì)成員,是一位管理兼容、電磁兼容性(EMC)和產(chǎn)品安全性領(lǐng)域?qū)<?,他在EMC理論和信號(hào)完整性的領(lǐng)域中進(jìn)行了廣泛的研究,撰寫了大量相關(guān)主題的論文,并出版了兩本與EMC和印刷電路板有關(guān)的書籍。