片上系統(tǒng)設(shè)計（影印版）

　　片上系統(tǒng)的研究由來已久，至今仍然保持著很強的生命力，并且越發(fā)活躍。該學科涉及面相當廣泛，牽涉到半導(dǎo)體物理、電路涉及理論、仿真軟件、算法等各方面，其應(yīng)用也滲透到電子、通信、控制等的所有方面。.本書內(nèi)容新穎，實例豐富，全書介紹了芯片核心設(shè)計、計算機輔助設(shè)計工具、芯片測試方法三個方面，尤其針對基于SRAM的可編程門陣列（FPGA）相關(guān)的容錯技術(shù)設(shè)計和可測性設(shè)計進行了重點的討論。本書以FPGA芯片為例，提出了故障模型和可編程芯片結(jié)構(gòu)中故障造成的嚴重影響，介紹了現(xiàn)今采用的主要容錯設(shè)計技術(shù)，并對基于SRAM的FPGA芯片相關(guān)的容錯設(shè)計實例進行分析和研究。本書對于國內(nèi)芯片可測性設(shè)計和分析、電路容錯設(shè)計、FPGA芯片設(shè)計等領(lǐng)域來說，是一部很有價值的參考書。..該書適應(yīng)面廣，無論對于該學科的專家、教授、研究生，還是本科生、普通技術(shù)人員都有極大的參考價值。...

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