電子技術(shù)實驗與課程設(shè)計

第一篇　模擬電子技術(shù)基礎(chǔ)
第1章　驗證性實驗
1.1常用電子儀器的使用練習(xí)
1.2晶體管參數(shù)測試與應(yīng)用
1.3低頻單管放大電路實驗
1.4共射單管分壓式偏置電路實驗
1.5結(jié)型場效應(yīng)管放大電路實驗
1.6射極跟隨器實驗
1.7壓控振蕩器(函數(shù)波發(fā)生器)實驗
1.8固定集成三端穩(wěn)壓電路實驗
1.9可調(diào)集成三端穩(wěn)壓電路實驗
1.10函數(shù)波形變換電路實驗
第2章　提高性實驗
2.1負(fù)反饋放大電路實驗
2.2差動放大電路實驗
2.3功率放大電路實驗
第3章　應(yīng)用性實驗
3.1集成運放比例、積分、微分運算電路
3.2集成運放比較器、積分器限幅電路
3.3 RC文氏電橋振蕩器實驗
3.4集成運算放大器的非線性應(yīng)用
第4章　設(shè)計性與綜合性實驗
4.1晶體管放大電路的設(shè)計
4.2直流穩(wěn)壓電源綜合實驗
4.3集成直流穩(wěn)壓電源設(shè)計
4.4用運算放大器組成萬用電表的設(shè)計與調(diào)試實驗
第二篇　數(shù)字電子技術(shù)基礎(chǔ)
第5章　驗證性實驗
5.1門電路邏輯功能及測試
5.2 TTL芯片性能和參數(shù)的測試
5.3 門電路的驅(qū)動能力測試
5.4觸發(fā)器邏輯功能測試
5.5集成計數(shù)器測試
第6章　提高性實驗
6.1波形的產(chǎn)生與單穩(wěn)態(tài)觸發(fā)器的研究
6.2 555時基電路的研究
6.3計數(shù)、譯碼、顯示電路
6.4競爭冒險
6.5 TTL與CMOS相互連接實驗
6.6電壓變換器
第7章　應(yīng)用性實驗
7.1觸發(fā)器應(yīng)用
7.2寄存器及其應(yīng)用
7.3計數(shù)器MSI芯片的應(yīng)用
7.4時序電路應(yīng)用
7.5施密特觸發(fā)器及其應(yīng)用
7.6多路模擬開關(guān)及其應(yīng)用
7.7 EN556時基電路應(yīng)用
7.8單穩(wěn)態(tài)觸發(fā)器及其應(yīng)用
第8章　設(shè)計性與綜合性實驗
8.1組合邏輯電路設(shè)計
8.2時序邏輯電路設(shè)計
8.3石英晶體振蕩器設(shè)計
8.4四路優(yōu)先判決電路綜合實驗
8.5電子校音管綜合實驗
8.6示波器多蹤顯示接口綜合實驗
8.7智力競賽搶答裝置設(shè)計
8.8數(shù)字電子秒表設(shè)計
第三篇　電子技術(shù)基礎(chǔ)課程設(shè)計
第9章　模擬電子技術(shù)課程設(shè)計
9.1直流穩(wěn)壓電源與充電電源
9.2音響放大器
9.3水溫控制系統(tǒng)
9.4電冰箱保護(hù)器
9.5數(shù)字邏輯信號測試器
第10章　數(shù)字電子技術(shù)課程設(shè)計
10.1 41/2數(shù)字電壓表
10.2數(shù)字電子鐘
10.3數(shù)字電子秤
10.4數(shù)字溫度計
10.5多路智力搶答器
10.6數(shù)字頻率計
10.7紅外線數(shù)字轉(zhuǎn)速表
第四篇　常用電子儀器
第ll章　通用電子儀器
11.1 DF4321雙蹤示波器
11.2 EMl642函數(shù)信號發(fā)生器
11.3 EEl411型合成函數(shù)信號發(fā)生器
11.4 EM2171單交流毫伏表
11.5 DF1731SL雙路直流穩(wěn)壓電源
11.6 NFC多功能計數(shù)器
11.7 EEl051高頻信號發(fā)生器
第12章　專用電子設(shè)備
12.1 XCTS--1晶體管特性圖示儀使用說明
12.2模擬電路實驗系統(tǒng)
12.3數(shù)字電路實驗系統(tǒng)
附錄A 用萬用表測量二極管、三極管及放大器指標(biāo)的方法
附錄B 常用電路元件、器件識別
附錄C 焊接基本知識
附錄D 標(biāo)準(zhǔn)邏輯符號與舊邏輯符號對照
附錄E 部分集成電路引腳排列
附錄F 實驗規(guī)則和實驗報告的要求
附錄G 設(shè)計性實驗報告