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公差與測(cè)量技術(shù)

公差與測(cè)量技術(shù)

定　價(jià)：￥7.40

作　者： 王玉榮，張應(yīng)昌主編
出版社： 陜西科學(xué)技術(shù)出版社
叢編項(xiàng)：
標(biāo)　簽： 暫缺
ISBN： 9787536907973 出版時(shí)間： 1990-01-01 包裝：
開本： 26cm 頁(yè)數(shù)： 323頁(yè) 字?jǐn)?shù)：  

內(nèi)容簡(jiǎn)介

　　本書包括互換性和標(biāo)準(zhǔn)化概論、圓柱公差與配合、形狀和位置公差、表面粗糙度等內(nèi)容。

作者簡(jiǎn)介

暫缺《公差與測(cè)量技術(shù)》作者簡(jiǎn)介

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