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半導(dǎo)體實(shí)驗(yàn)教程（基礎(chǔ)部分）

半導(dǎo)體實(shí)驗(yàn)教程（基礎(chǔ)部分）

定　價(jià)：￥2.15

作　者： 鄭云光主編
出版社： 天津大學(xué)出版社
叢編項(xiàng)：
標(biāo)　簽： 半導(dǎo)體技術(shù)
ISBN： 9787561801826 出版時(shí)間： 1989-12-01 包裝：
開本： 26cm 頁數(shù)： 155頁 字?jǐn)?shù)：  

內(nèi)容簡介

　　本書介紹半導(dǎo)體材料物理參數(shù)、表面參數(shù)和雙極與場效應(yīng)晶體管參數(shù)以及TTL、CMOS集成電路與運(yùn)算放大器參數(shù)的測試方法，實(shí)驗(yàn)原理和測試分析方法。

作者簡介

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