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測(cè)試工程學(xué)

測(cè)試工程學(xué)

定　價(jià)：￥10.20

作　者： （日）Yi屋公明，（日）山田光著；張鄂等譯
出版社： 國防工業(yè)出版社
叢編項(xiàng)：
標(biāo)　簽： 測(cè)試
ISBN： 9787118002850 出版時(shí)間： 1989-04-01 包裝：
開本： 26cm 頁數(shù)： 313頁 字?jǐn)?shù)：  

內(nèi)容簡(jiǎn)介

　　本書論述了測(cè)試技術(shù)的各個(gè)有關(guān)問題，包括測(cè)試學(xué)概論，信號(hào)的檢出與變換;信號(hào)的性質(zhì)與傳輸;數(shù)據(jù)的分析、處理與判斷;測(cè)試與控制;測(cè)試精度;主要的測(cè)試系統(tǒng)等。

作者簡(jiǎn)介

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