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超大規(guī)模集成電路設(shè)計

超大規(guī)模集成電路設(shè)計

定　價：￥10.60

作　者： （日）樹下行三等著；裴武煥譯
出版社： 科學(xué)出版社
叢編項： 微電子學(xué)講座
標(biāo)　簽： 超大規(guī)模集成電路 邏輯設(shè)計 故障測試 計算機(jī)輔助設(shè)計
ISBN： 9787030024572 出版時間： 1991-12-01 包裝：
開本： 20cm 頁數(shù)： 285頁 字?jǐn)?shù)：  

內(nèi)容簡介

　　本書從基礎(chǔ)理論到最新發(fā)展，介紹了集成電路設(shè)計中的邏輯設(shè)計與測試技術(shù)。其中包括布爾代數(shù)、邏輯設(shè)計、邏輯模擬、測試系統(tǒng)的生成及易測性設(shè)計。

作者簡介

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