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現(xiàn)代光電測試技術

現(xiàn)代光電測試技術

定　價：￥35.00

作　者： 顧文郁編譯
出版社： 上?？茖W技術文獻出版社
叢編項：
標　簽： 光電子技術 測試
ISBN： 9787543902633 出版時間： 1994-06-01 包裝：
開本： 26cm 頁數(shù)： 400頁 字數(shù)：  

內容簡介

　　介紹以光電子學為中心、特別是光學與電子計算機相結合的最優(yōu)結合的最優(yōu)化測試法。

作者簡介

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