工業(yè)中的核測量

定　價：￥20.00

作　者：	（匈）S.羅薩（S.Rozsa）著；紀(jì)裕盈，尚秀蘭譯
出版社：	原子能出版社
叢編項：
標(biāo)　簽：	輻射探測

ISBN：	9787502213855	出版時間：	1995-06-01	包裝：	精裝
開本：	26cm	頁數(shù)：	196	字?jǐn)?shù)：

內(nèi)容簡介

　　內(nèi)容簡介本書是匈牙利科學(xué)院核專家S.Rozsa的一本專著，也是工業(yè)核測量領(lǐng)域的第一本專著。書中結(jié)合作者幾十年的工作經(jīng)驗，結(jié)合實際的工業(yè)應(yīng)用成果，集中討論了核測量技術(shù)在工業(yè)及其有關(guān)領(lǐng)域中的應(yīng)用。核測量儀器有很高的準(zhǔn)確度和可靠性，能在惡劣的環(huán)境條件下運用，并且是非接觸的測量方式，這些都使它能解決采用其它測量方法難以解決的問題，因而在世界上工業(yè)發(fā)達國家中獲得了廣泛的應(yīng)用。在我國，隨著四個現(xiàn)代化建設(shè)的快速發(fā)展，工業(yè)核測量技術(shù)也正得到大力的推廣應(yīng)用。本書內(nèi)容共分12章，包括：輻射源和核輻射的基本概念，輻射探測系統(tǒng)，各種核測量方法和測量儀表，極限值指示和料位測量，厚度測量（包括鍍層厚度測量），密度測量，水分含量測量，材料成分分析和測量，核測量技術(shù)的其它工業(yè)應(yīng)用以及測量裝置的建立、應(yīng)用的規(guī)劃和輻射防護等內(nèi)容。為方便國內(nèi)讀者，譯者在本書末尾加了附錄，介紹了國內(nèi)工業(yè)應(yīng)用核儀器的概況。本書適用于工礦企業(yè)采用或打算采用核儀表的技術(shù)人員及技術(shù)工人，研制核儀表和研究核技術(shù)應(yīng)用的科技人員以及中專、大專院校有關(guān)專業(yè)的師生。

作者簡介

暫缺《工業(yè)中的核測量》作者簡介

圖書目錄

     目錄
   前言
   1 基本概念
    1.1 同位素和放射性
    1.2 放射性的基本定律和單位
    1.3 輻射源
    1.3.1 密封輻射源的特性
    1.3.2 密封性的檢驗和判據(jù)
    1.3.3 輻射源的使用和商品化
    1.4 輻射與物質(zhì)的相互作用
    1.4.1 α輻射
    1.4.2 β輻射
    1.4.3 Υ輻射
    1.4.4 中子輻射
   2 輻射探測系統(tǒng)
    2.1 電離室
    2.2 正比計數(shù)管
    2.3 G－M計數(shù)管
    2.4 半導(dǎo)體探測器
    2.5 閃爍計數(shù)器
    2.5.1 閃爍體
    2.5.2 光電倍增管
    2.5.3 工作穩(wěn)定性
    2.5.4 閃爍能譜測量
    2.5.5 帶半導(dǎo)體光敏器件的閃爍探測器
    2.6 工業(yè)核儀表中的探測器
   3 測量方法和測量儀表
    3.1 同位素測量方法
    3.1.1 直接測量
    3.1.2 差分測量
    3.1.3 補償測量
    3.1.4 自動校準(zhǔn)
    3.2 統(tǒng)計測量誤差
    3.3 放射性同位素測量儀表
    3.3.1 用于信號處理的電子學(xué)系統(tǒng)
    3.3.2 通用測量系統(tǒng)
    3.3.3 智能測量儀表
    3.3.4 多道測量裝置
    3.4 控制系統(tǒng)
   4 極限值指示
    4.1 放射性同位素的極限值指示（Υ繼電器）
    4.2 適用于解決極限值指示問題的幾種放射性同位素裝置
    4.3 料位指示器Υ繼電器的應(yīng)用
    4.4 料位指示器在自動控制中的應(yīng)用
   5 料位測量
    5.1 吸收式料位測量儀表
    5.2 跟蹤式料位測量儀表
    5.3 Υ定位剖面測量
    5.4 利用放射性同位素探測進行料位控制
    5.5 料位測量和工藝監(jiān)督
   6 厚度測量
    6.1 利用放射性同位素進行厚度測量
    6.2 放射性同位素厚度測量裝置
    6.3 厚度測量裝置的應(yīng)用
    6.4 厚度（表面質(zhì)量）控制
    6.5 利用厚度測量儀表進行工藝監(jiān)督
   7 鍍層厚度測量
    7.1 基于β輻射反射技術(shù)的鍍層厚度測量
    7.2 基于β輻射反射技術(shù)的鍍層厚度測量裝置
    7.3 利用β輻射反射原理進行鍍層厚度測量的應(yīng)用
    7.3.1 錫鍍層厚度的測定
    7.3.2 鋅鍍層厚度的測量
    7.3.3 銀鍍層厚度的測量
    7.3.4 金鍍層厚度的測量
    7.3.5 雙鍍層厚度的測量
    7.3.6 塑料和涂料涂層厚度的測量
    7.3.7 其它涂層厚度的測量
    7.3.8 鏜孔電鍍層厚度的測量
    7.4 利用X射線熒光測量層厚
   8 密度測量
    8.1 利用Υ輻射吸收法進行密度測量
    8.2 測量位置的設(shè)計
    8.2.1 測量倉的充滿度
    8.2.2 氣泡
    8.2.3 測量管中的沉積
    8.2.4 測量管的磨損
    8.2.5 吸收長度的選定
    8.2.6 校準(zhǔn)可能性的保證
    8.3 密度測量儀表
    8.4 放射性同位素密度計的應(yīng)用
   9 水分含量測量
    9.1 利用中子慢化法測量水分含量
    9.2 濕度計的工藝應(yīng)用
    9.2.1 水分含量不變的混合料的生產(chǎn)
    9.2.2 供給特定量水分
    9.2.3 帶質(zhì)量修正的加料
   10 利用核儀表測定材料成分
    10.1 以輻射吸收原理工作的儀表
    10.1.1 β輻射吸收的應(yīng)用
    10.1.2 Υ輻射吸收的應(yīng)用
    10.2 利用輻射反射（散射）進行測量
    10.2.1 β輻射反射的應(yīng)用
    10.2.2 Υ輻射反射的應(yīng)用
    10.3 次級輻射的測量
    10.3.1 由β輻射產(chǎn)生的次級輻射的測量
    10.3.2 由Υ輻射產(chǎn)生的次級輻射的測量
    10.3.3 熒光輻射的測量
    10.4 中子輻射的應(yīng)用
    10.4.1 活化分析
    10.4.2 自發(fā)核反應(yīng)的應(yīng)用
    10.4.3 中子吸收和散射的應(yīng)用
    10.5 Υ輻射的選擇相互作用
    10.6 根據(jù)天然放射性測定材料成分
   11 核方法的其它工業(yè)應(yīng)用
    11.1 輸送帶上的連續(xù)測量
    11.2 包裹內(nèi)裝物品的檢查
    11.3 利用Υ輻射吸收探測煙
    11.4 靜電荷的消除
    11.5 可攜式核儀器
    11.5.1 土壤密度和水分含量的測量
    11.5.2 利用反射技術(shù)進行壁厚測量
    11.5.3 料位測定計
   12 工業(yè)用放射性同位素測量裝置的建立
    12.1 裝置的適當(dāng)選定和數(shù)據(jù)獲取
    12.2 規(guī)劃應(yīng)用
    12.3 現(xiàn)場操作
    12.4 輻射防護
    12.4.1基本原理
    12.4.2輻射源容器
   參考文獻
   附錄